薄膜测厚仪的技术特点介绍
更新时间：2021-05-12 点击次数：1286
薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
薄膜测厚仪的技术特点介绍
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
实时显示测量结果的*大值、*小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
支持Lystem™实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告
标准的RS232接口，便于系统的外部连接和数据传输
当前位置：
地址：安徽省合肥市经开区尚泽大都会A座2214
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