薄膜测厚仪要考虑的测量参数都有哪些？
更新时间：2021-08-25 点击次数：1675
薄膜测厚仪是一种薄膜厚度测量仪器，已经在很多行业得到应用，方便了很多人的测量工作。那么你对它有什么了解呢？
1、测量范围广
膜厚仪的测量范围很广，可以从薄膜到厚膜测量厚度，不会因测量材料的变化而给厚度测量操作带来任何不便。
2、先进的厚度分析方法
膜厚测量仪的厚度分析方法采用绝对反射光谱分析方法，与其他类型的测厚仪相比，在测量精度和测量速度方面具有显着优势。
3、操作简单
膜厚仪采用人性化设计，使仪器膜厚的测量更加容易，无需复杂的测量操作，相关测量人员只需进行简单的操作设备操作培训。
4、外观新颖
测量仪的外观也进行了全新的设计。整体外观更加*新颖。相较于传统测厚仪呆板的外形，更吸引了人们的眼球。
5、实现光学常数分析功能
膜厚仪采用非光学数据分析方法，实现了光学常数的分析，不仅加快了测厚速度时间，而且还进一步提高了其精度，为人们提供了更准确的膜厚测量数据。
薄膜测厚仪要考虑的测量参数都有哪些？
1、测量波长
薄膜测厚仪的测量波长在450nm-780nm之间，更宽的波长测量范围可以实现更快的光学测厚过程。
2、测量精度
本测量仪的测量精度在0.2nm误差范围内。
3、卤素灯
薄膜测厚仪的光源采用卤素灯，不仅提供了充足的光源照度，而且减少了对眼睛的伤害，它具有非常人性化的设计。
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